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FOC05-AM1M

  • 類型:激光測距傳感器 品牌:西克SICK 系列:OC Sharp 納米級

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特性規格:

  • 產品量程從600微米到12毫米
  • 光譜共焦法原理傳感器帶來高精度和高可靠性
  • 極高的測量頻率,達4,000 Hz
  • 廣泛適用于各種材料和顏色被測物的高精度穩定測量
  • 一個測量頭即可以精確測量極薄透明薄膜的厚度
  • 最小4微米的極小光點,可以測量非常小的被測物
  • 最高5.5納米的分辨率
  • 一臺控制器同時連接一個測量頭工作
  • 測距,透明測厚和干涉法測厚三種測量工作模式
  • 免費操作軟件,使用方便

應用領域:

  • 高精度識別測量:比如汽車行業發動機和變速箱等核心部件的尺寸測量,機床行業的高精度加工件測量
  • 薄膜厚度測量:比如吹膜機膜厚監控,流延膜厚監控
  • 精密制造及組裝行業:比如軸承鋼珠外形監控,細孔深度測量
  • 電子及太陽能:半導體硅片表面物相監控
  • 電子及太陽能:電路板質量監控,高精度IC針腳監控,比如硬盤制造,消費電子產品組裝質量監控
  • 透明玻璃厚度檢測:比如顯示屏玻璃平面度及厚度測量,鏡頭或鏡片鍍膜厚度檢測


客戶受益:

  • 得益于傳感器納米級的高精度和4K的測量頻率,可以高速高精度的檢測各種物體
  • 極高的精度和極大的允許傾斜角度,讓現場使用非常靈活,節省成本
  • 單頭測量透明物體厚度,為高精度透明物體測量提供高性價比方案
  • 得益于其極小的光斑,該傳感器可以用來測量極小的被測物,比如IC針腳,或者極小的孔深,而這些原來的接觸式或者三角測量法傳感器都無法實現,為客戶的測量提供新的可能方案。
  • 非接觸性式,無需特殊安裝設備及免示教的測量技術,為客戶節省安裝調試及后期維護時間,節省成本。
  • 隨機附帶的操作軟件,為客戶節省時間和成本

說明:我們可以為您提供完整 FOC05-AM1M規格參數、使用說明書、選型資料、安裝圖紙、接線表、安裝技術指導、報價等,我們承諾我們售出的西克(SICK)激光測距傳感器 FOC05-AM1M均是原裝正品,請放心采購!如果頁面中的參數與您需要的有出入,請聯系客服咨詢!

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品牌介紹

西克原名為”施克“,后改名為”西克“,西克(SICK)成立于1946年,公司名稱取自于公司創始人歐文·西克博士(Dr. Erwin Sick)的姓氏,總公司位于德國西南部的瓦爾德基爾希市(Waldkirch)。
西克(SICK)已在全球建立了接近50個子公司和眾多的銷售機構, 雇員總數超過6,500人,2013年銷售業績逾10億歐元。
歷經多年的發展與積累,已成為當地極具影響力的智能傳感器解決方案供應商,產品廣泛應用于各行各業,包括包裝,食品飲料,機床,汽車,物流,機場,電子,紡織等行業。已在廣州,上海,北京,青島,香港等地設有分支機構,并形成了輻射全國各主要區域的機構體系和業務網絡。